溫度循環試驗箱◎RAMP試驗溫變率列表

溫度循環試驗箱◎RAMP試驗溫變率列表
溫度循環試驗箱(斜率可控制) [5℃～30 ℃/min]
	30℃/min	電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環 MOTOROLA壓力傳感器溫度循環試驗
	28℃/min	LED汽車照明燈
	25℃/min	PCB的產品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應
	24℃/min	光纖連接頭
	20℃/min	IPC－9701 、覆晶技術的極端溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統&端子、改進導通孔系統信號比較IC包裝的熱量循環和SnPb焊接、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命

	17℃/min	MOTO
	15℃/min	IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器電子組件溫度循環測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業及交通工具、汽車引擎蓋下環境)
	11℃/min	無鉛CSP產品溫度循環測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A
	10℃/min	通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環測試
	5℃/min	錫須溫度循環試驗